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ST-21方阻测试仪,四探针测试仪

时间:2018-07-05 14:55来源:联系电话0755-83982139 作者:在线QQ:417630375 点击:
ST-21方阻测试仪 ST-21方阻测试仪 是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准,专门测量半导体薄层电阻(表面电阻)的新型仪器,可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜),
ST-21方阻测试仪
ST-21方阻测试仪是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准,专门测量半导体薄层电阻(表面电阻)的新型仪器,可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜),金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。
该仪器以大规模集成电路为主要核心;用基准电源和运算放大器组成高精度稳流源;带回路有效正常指示电路;并配以大型LCD显示读数,使仪器具有体积小、重量轻、外形美、易操作、测量速度快、精度高的特点。
四探针
ST-21方阻测试仪特点:
1,采用大规模集成电路作为仪器的主要部分,测量准确稳定,低功耗;
2,以大屏幕LCD显示读数,直观清晰;
3,采用单个电池供电,带电池欠压指示;
4,体积≤175mm X90mm X42mm,重量≤300g;
5,特制之手握式探笔,球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜
6,探头带抗静电模块
ST-21方阻测试仪技术参数
测量范围
 按方块电阻量值大小分为二个量程档:
  1.方块电阻 1.00~199.99Ω/□;
  2.方块电阻 10.0~1999.9Ω/□;
 最小分辨率:0.01Ω/□
恒流源
 测量过程误差:≤±0.8%
模数转换器
 量程:0~199.99mv;
 分辨率:10μv;
 方式:LCD大屏幕显示;极性,超量程均自动显示;小数点同步显示;
测量不确定度
 在整个量程范围内,测量不确定度≤5%
四探针探头规格
 间距:1mm、1.59mm、3.8mm;偏差≤2%;游移率≤0.3%;绝缘电阻≥500MΩ
四探针
电源
 9V叠层电池1节
ST-21方阻测试仪可选配HP系列四探针探头的型号及规格:
型号
(Model)
曲率半径
(Radius)
压力
(loads)
探针间距
(spacing)
探针排列
(Arrangement)
HP-501 0.5mm 100g 3.8mm 直线
HP-502 0.75mm 100g 3.8mm 直线
HP-503 0.1mm 150g 1mm 直线
HP-504 0.5mm 100g 1.59mm 直线
ST-21方阻测试仪可选配SP-601型方型四探针探头的型号及规格:
SP-601型方形四探针探头是一种专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的方块电阻测试仪配用的方型四探针测试探头,专用于测量小样品的四探针探头,可用于一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜),金属薄膜……等同类物质的薄层电阻
四探针
1,特制之手握式探笔
2,球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜不被损伤
3,探头带抗静电模块有效防止方块电阻测试仪采集数据集成模块烧坏
4,探头使用寿命长
5,探针间距:1.59mm;偏差≤2%;游移率≤0.3%;绝缘电阻≥500MΩ
型号
(Model)
曲率半径
(Radius)
压力
(loads)
探针间距
(spacing)
探针排列
(Arrangement)
SP-601 0.5mm 100g 1.59mm 方形

(责任编辑:深圳君达时代仪器有限公司)
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