深圳君达,露点仪,热式气体流量计

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  • Ficherscoper X-RAY XDV®-SDD 日期:2018-07-28 21:27:53 点击:112 好评:0

    Ficherscoper X-RAY XDV-SDD Ficherscoper X-RAY XDV-SDD 型仪器是为了满足镀层厚度测量和材料分析领域的最高要求而专门设计的。在配备了最新的硅漂移探测器后,特别适合于无损测量数纳米厚度的...

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