作为与电导率测量互补的方法,X射线荧光分析(XRFA) 可以无损快速准确地确定贵金属的元素成分。
电导率测量非常适合于检测内部有夹杂物内的样品,但它不能提供样品合金中包含的所有元素的精确成分。而这正是X射线荧光分析(XRFA)
所擅长的。它根源在于特别精确,可靠的,并且最重要的是,使用无损的方法,测量并分析黄金珠宝表面的元素成分和镀层厚度。
测量仪器必须符合精炼厂和贵金属化验师的最高要求。不仅含金量而且所有元素组成的完整测定都是很重要的。
另外有还可以检测有害的元素如镍,镉和铅。该FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 系列产品可以对所有这些元素进行精确测量。
除了高端测量系统XAN250之外,FISCHER还为客户提供适合的仪器,一个强大的入门级的仪器XAN215,和高精度标准型系统XAN220。所有测量仪器的操作都快速而简单,并且拥有良好的长期稳定性。采用硅漂移探测器的仪器
(XAN 220 和 250)
能达到0.3‰甚至更好的精度,可以与灰吹法想媲美。为确保测量结果的准确性,FISCHER内部按照最严格的校正标准生产优质的标准片。

FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 220用于黄金和珠宝的高精度分析