双晶线性阵列腐蚀探头

双晶线性阵列腐蚀探头
 检测光滑表面和在空间极其狭小的区域进行检测时拥有优化的近表面分辨率双晶线性阵列探头包含一组发射晶片和一组接收晶片，这两组晶片被分别安装在切有固定屋顶角的延迟块的两部分上。这种配置可以生成在被测工件表面以下聚焦的声束，从而可大大降低表面反射的波幅。这种配置还可以提高近表面分辨率，得到对诸如点蚀、蠕变损伤和HIC（氢致裂纹）等危害性缺陷的更高的检出率。
 
 腐蚀检测扫查方式
 手动和手动编码
 尽管所有探头组装件在装配了Mini-Wheel或VersaMOUSE扫查器时都可以用作独立的编码扫查设备，奥林巴斯的半自动和自动扫查器也可以完成真实2维编码操作。
 RexoFORM楔块和VersaMOUSE扫查器可以进行单线编码扫查，在使用整合型步进点击按钮时，还可以进行二维成像操作。
 
 半自动
 MapSCANNER是一种双轴扫查器，经过优化，可以进行腐蚀成像操作。图中显示的是与HydroFORM扫查器装配在一起的MapSCANNER扫查器
 ChainSCANNER是一款用途广泛的双轴扫查器，可用于腐蚀成像和焊缝检测。图中显示的是与HydroFORM扫查器装配在一起的ChainSCANNER扫查器。
 
 自动
 HydroFORM扫查器可以与MapROVER扫查器一起使用，在管材的周向上进行检测。
 DLA腐蚀探头在与MapROVER扫查器配套使用时，可用于进行自动检测。
 SFA1-AUTO楔块系列可以与MapROVER扫查器一起使用，在管材的纵向上进行检测。
 MapROVER电动扫查器还可以使用双晶常规UT探头进行检测。