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日期：2024-10-20 21:13:00 点击：1914

菲希尔XDL系列X射线荧光镀层测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL采用了完全基本参数法，因此无论是对镀层系统还是对固体和液体样品，仪器都能在没有标准片的情况下进行测量和分析。其测量范围为元素氯（17）到铀（92）。适用于客户进行质量控制、进料检验和生产流程监控。

日期：2018-07-28 21:24:25 点击：7337

Ficherscoper X-RAY XDL X射线荧光光谱仪 Ficherscoper X-RAY XDL X射线荧光光谱仪配备了比例计数管探测器，适用于质量控制，来料检验和生产监控。由于它测量空间大，故而适合测量有复杂几何

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