LT-2型单晶少子寿命测试仪
LT-2型单晶少子寿命测试仪
LT-2型单晶少子寿命测试仪是参考美国 A.S.T.M 标准而设计的用于测量硅单晶的非平衡少数载流子寿命。半导体材料的少数载流子寿命测量，是半导体的常规测试项目之一。本仪器灵敏度较高，配备有红外光源，可测量包括集成电路级硅单晶在内的各种类型硅单晶，以及经热处理后寿命骤降的硅单晶、多晶磷检棒的寿命测量等。
本仪器根据国际通用方法高频光电导衰退法的原理设计，由稳压电源、高频源、检波放大器，特制的InGaAsp／InP红外光源及样品台共五部份组成。采用印刷电路和高频接插连接。整机结构紧凑、测量数据可靠。
|
单晶电阻率范围 |
>2Ω.cm |
|
单晶少子寿命范围 |
5μS～7000μS |
|
配备光源类型 |
波长：1.09μm；余辉<1 μS； |
|
高频振荡源 |
用石英谐振器，振荡频率：30MHz |
|
前置放大器 |
放大倍数约25，频宽2 Hz-1 MHz |
|
仪器测量重复误差 |
<±20％ |
|
测量方式 |
采用对标准曲线读数方式 |
|
仪器消耗功率 |
<25W |
|
仪器工作条件 |
温度： 10-35℃、 湿度 < 80％、使用电源：AC 220V，50Hz |
|
可测单晶尺寸 |
断面竖测：φ25mm—150mm； L 2mm—500mm； |
|
配用示波器 |
频宽0—20MHz； |
- MRX-SF120封口机-扣式电池封装和拆壳工艺
- 兰氏Ransburg76652‑03油漆电阻率测定仪核心优势
- 美国 Ransburg 兰氏 76652‑03 油漆电阻率测定仪 76634‑00 主机 7922‑00 探针涂料电导率测试仪静电喷涂现场实测应用案例
- Ransburg 兰氏 76652‑03 油漆电阻率仪：静电喷涂工艺管控核心检测工具
- HRS‑150 数显洛氏硬度计：金属热处理行业高效硬度检测优选设备
- HRTS-150触摸屏数显洛氏硬度计
- HR‑150A 手动洛氏硬度计，传统机械式金属硬度检测实用之选
- HR‑150A经典型洛氏硬度计产品说明书
- 科纳沃茨特Kleinwächter EFM-023-AKC静电测试仪套件-EFM023AKC KIT
- DESCO19492静电场测试仪-停产，替代型号770716
