菲希尔ST30微米划痕仪全自动划痕仪简介可以用于分析薄膜及涂层材料的结合力和附着力等特性，例如PVD、CVD、PECVD薄膜、感光薄膜、彩绘釉漆、光学薄膜、微电子镀膜、保护性薄膜、装饰性涂层等材料表面的附着力、断裂及形变分析，基体可以为软质或硬质材料，包括金属、合金、橡胶、半导体、玻璃、矿物、陶瓷以及有机材料等。

XDV-SDD型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪是一款应用广泛的能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它特别适用于测量和分析超薄镀层以及经行痕量分析。其配备了高精度、可编程运行的 X/Y 轴工作台，是全自动测量样品的理想设备。

菲希尔_HM2000S微纳米压痕仪FISCHERSCOPE® HM2000是一款遵循国际标准DIN EN ISO 14577，采用仪器化压入测试方法的高性价比纳米压痕仪。采用该仪器，可测量难以对位的被测位置，十分适用于研发、质量控制、来料检验和过程控制等领域。

菲希尔Fischer ST200载荷渐进式划痕仪载荷渐进式的划痕仪完全规避了传统测量手段的弊端，通过不断增加的载荷很容易在一次测量中找到各个临界位置，如涂层破裂，破碎或分离点，在可控的实验室环境中真实模拟了现实中产品的受力状态，更好的检测了涂层间的结合力以及涂层和基体之间的附着力等性能。 渐进式载荷划痕示意图：

菲希尔HM500 LIGHT纳米压痕仪PICODENTOR® HM500是一款遵循国际标准DIN EN ISO 14577-1，采用载荷/压入深度方法的显微硬度测量系统。采用该方法时，压头——通常为维氏或柏氏压头，连续不断地以加大载荷的方式压入被测材料中，然后再行卸载。在整个测量过程中，实时记录相对应的压入深度与载荷大小

菲希尔XDL系列X射线荧光镀层测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL采用了完全基本参数法，因此无论是对镀层系统还是对固体和液体样品，仪器都能在没有标准片的情况下进行测量和分析。其测量范围为元素氯（17）到铀（92）。适用于客户进行质量控制、进料检验和生产流程监控。

菲希尔HM500纳米压痕仪显微硬度测量系统采用载荷/压入深度方法的显微硬度测量系统。采用该方法时，压头——通常为维氏或柏氏压头，连续不断地以加大载荷的方式压入被测材料中，然后再行卸载。在整个测量过程中，实时记录相对应的压入深度与载荷大小

菲希尔FMP100/FMP150系列高性能手持式涂层测厚仪FISCHEER可提供高性能手持式测量仪器，用于专业涂镀层厚度测量中各种要求严苛的任务。这些仪器配备触摸屏和 Windows™ CE 操作系统，操作快速且直观。更大的系统内存意味着您可以执行数千个测量任务。具有各种统计与分析功能，可用于处理结果。

菲希尔（Fischer）公司简介测量和分析仪器广泛应用于世界各个领域，可满足客户对高精度、高可靠性测量和操作简便的需求。我们通过专业的咨询服务为客户提供最佳的解决方案，即从第一次接触开始，不断沟通，直至达到定制化服务的理念。这些紧密合作与我们的创新驱动力不断结合，为形成新的测量解决方案奠定了坚实的基础

菲希尔MP0/MP0R电磁/涡流测厚仪小巧、方便且稳固 – MP0 和 MP0R 系列仪器能够简便、快速且无损地测量涂层厚度。配有两个显示屏、一个特别坚固的外壳和耐磨损的探头，它们是可以直接用于现场可靠测量的理想设备。

菲希尔FISCHERSCOPE MMS PC2模块化涂层测量系统搭载 Windows™ CE 操作系统，是适用于高精度涂镀层厚度测量与材料测试的理想解决方案。具备通过 LAN 与 USB 连接实现联网的功能，因此可以快速地集成至质量管理系统和自动化制造过程中

菲希尔 FERITSCOPE FMP30测量铁素体含量在奥氏体或双相钢必须承受高温、侵蚀性物质以及高压的情况下，铁素体含量至关重要。特别是涉及到化工厂、能源设施及工厂中的现场测量时，FISCHER 手持式设备的优势将非常显著。为 FERITSCOPE FMP30 提供多种探头，