三丰VL‑50S系列 高精度0.01N低测力数显测高仪
发布时间：2026-09-05 11:44:33 作者：深圳市君达时代仪器有限公司 阅读: 195 次
三丰VL‑50S系列 高精度0.01N低测力数显测高仪0.01N极低测力 测量范围0‑50mm 分体式控制器 大理石工作台 Mitutoyo原装
VL‑50S系列低测力测高仪专为薄膜、软质材料、易变形工件高度测量开发，极小测量力，防止探头压伤被测样品，广泛用于半导体、膜材、精密零部件检测。
三丰VL‑50S系列高精度0.01N低测力数显测高仪 | Mitutoyo
三丰VL‑50S数显低测力测高仪
0.01N极低测力 测量范围0‑50mm 分体式控制器 大理石工作台 Mitutoyo原装
VL‑50S系列低测力测高仪专为薄膜、软质材料、易变形工件高度测量开发，极小测量力，防止探头压伤被测样品，广泛用于半导体、膜材、精密零部件检测。
产品型号参数
| 型号 | 订货编号 | 测量范围(mm) |
|---|---|---|
| VL‑50S‑B | 318‑226DC | 0 ~ 50 |
| VL‑50S‑15‑B | 318‑227DC | 0 ~ 50 |
| VL‑50S‑100‑B | 318‑228DC | 0 ~ 50 |
核心特点
- ✅ 0.01N超低测量力：软质、薄膜、薄片样品不会被压变形，测量数据真实可靠
- ✅ 分体显示控制器：主机与操作单元分离，便于实验室产线布局
- ✅ 花岗石大理石平台：高平面度，稳定基准台面
- ✅ Mitutoyo原装品质，重复测量精度高
- ✅ 应用场景：薄膜、胶垫、半导体晶圆、薄型工件高度、台阶测量
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