超声发射接收仪器德国KK超声波探伤仪汕头超声超声探伤仪时代超声波探伤仪紫外线防护用品紫外线强度计照度计示波器校准仪蓄电池检测仪张力仪扭矩仪测力计校准仪高斯计弹簧试验机光源-光功率计温湿度计过程校准仪紫外线灯LCR测试仪接地电阻测试仪万用表转速表
当前位置: 主页 > TAG标签 > XDV-SDD型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪
XDV-SDD型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪
日期:2024-10-20 21:18:04 点击:2229
XDV-SDD型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪是一款应用广泛的能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它特别适用于测量和分析超薄镀层以及经行痕量分析。其配备了高精度、可编程运行的 X/Y 轴工作台,是全自动测量样品的理想设备。
热门产品推荐
固纬Gwinstek LCR-8110G高精度LCR测试仪 LCR-8110G高精度LCR测试仪20Hz ~ 10MHz,提供高达1MHz宽广的测量频率范围以及0.1%的基本精确度。另外,还包括DC电阻测量以及电压/电流监测功能,并搭配
菲希尔_HM2000S微纳米压痕仪FISCHERSCOPE® HM2000是一款遵循国际标准DIN EN ISO 14577,采用仪器化压入测试方法的高性价比纳米压痕仪。采用该仪器,可测量难以对位的被测位置,十分适用于研发、质量控制、来料检验和过程控制等领域。
UVS-30、UVS-40、UVG-50、UVF-80紫外线防护眼镜及防护面罩 UVS-30、UVS-40、UVG-50、UVF-80紫外线防护眼镜及防护面罩 操作人员紫外防护用 SP公司的紫外防护眼睛防止紫外线,保护眼睛及脸部,经过滤后的所有紫外光辐射低于10-5,大大低于NIOH
日本图技 GL100-TH 温湿度记录仪 日本图技 GL100-TH 温湿度记录仪可以同时显示温度、湿度、露点温度。日本图技 GL100-TH 温湿度记录仪内置4.9M存储空间,还可以外接扩展卡,保证更多的数
Fluke 700G 系列便携式压力校准仪 福禄克 Fluke 700G 系列便携式压力校准仪 具有易于使用、结实可靠的结构,压力测量范围在 15 psi/ 1 bar 到 10,000 psi/690 bar 之间,准确度 0.05% 兼容大部分液压
LS116用于PC薄膜的透光率检测 PC薄膜具有良好的综合性能,普通PC薄膜为无色透明,透光率在90%以上,很适宜做光学薄膜材料。其透光率数值可使用林 上透光率检测仪 进行检测得知。
返回首页公司简介联系我们TAG标签 网站地图RSS订阅
公司地址:深圳市龙华区龙华街道东环二路48号企生活人工智能华盛园三层   联系邮箱:56817.cn@163.com
联系电话:0755-83982369,83982365  联系手机:18902438879,15920069059
CopyRight © 2002-2026 深圳市君达时代仪器有限公司 版权所有 粤ICP备09010331号 网站建设蚂蚁网络