日期：2024-10-20 21:13:00 点击：1801
菲希尔XDL系列X射线荧光镀层测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL采用了完全基本参数法，因此无论是对镀层系统还是对固体和液体样品，仪器都能在没有标准片的情况下进行测量和分析。其测量范围为元素氯（17）到铀（92）。适用于客户进行质量控制、进料检验和生产流程监控。
日期：2018-07-28 21:27:53 点击：7183
Ficherscoper X-RAY XDV-SDD Ficherscoper X-RAY XDV-SDD 型仪器是为了满足镀层厚度测量和材料分析领域的最高要求而专门设计的。在配备了最新的硅漂移探测器后，特别适合于无损测量数纳米厚度的
日期：2018-07-28 21:24:25 点击：7239
Ficherscoper X-RAY XDL X射线荧光光谱仪 Ficherscoper X-RAY XDL X射线荧光光谱仪 配备了比例计数管探测器，适用于质量控制，来料检验和生产监控。由于它测量空间大，故而适合测量有复杂几何
日期：2018-07-28 21:20:20 点击：16018
菲希尔Ficherscoper X-RAY 4000 X射线荧光光谱仪 用于在线测量的FISCHERSCOPE. X-RAY 这类X射线荧光测量系统，用于连续镀层厚度测量和分析，主要是为了对生产线进行实时的质量控制而设计的。
日期：2018-07-28 20:46:15 点击：16204
菲希尔Ficherscoper X-RAY X射线荧光光谱仪 无论是高精度镀层厚度测量或是精确材料成分分析，FISCHER众多系列的X射线荧光光谱仪可以为任何应用提供最佳仪器选择。除了拥有很多的创新和
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