UV-A紫外辐照计(单通道)
UV-A紫外辐照计采用SMT贴片技术，选用高精度低功耗数字芯片，UV-A紫外辐照计外壳为流线型设计，探测器经过严格的光谱及角度特性校正，性能稳定，适用性强。该仪器适用于光化学、高分子材料老化、探伤、紫外光源、植物栽培、以及大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。
UV-A紫外辐照计产品特点:
光谱及角度特性经严格校正
数字液晶显示，带背光
手动/自动量程切换数字输出接口（USB冗余供电）
低电量提醒
自动延时关机
有数字保持
轻触按键操作，蜂鸣提示
UV-A紫外辐照计主要技术指标:
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探头（二选其一）： |
UV-420nm 探头 |
UV-365nm 探头 |
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波长范围及峰值波长: |
λ：(375～475)nm；λP＝420nm |
λ：(320～400)nm；λP＝365nm |
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紫外带外区杂光： |
UV420：小于0.02% |
UV365：小于0.02% |
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辐照度测量范围： |
(0.1～199.9×103) μW/cm2 |
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相对示值误差： |
±10%（相对与NIM标准） |
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角度响应特性： |
±5%(α ≤10°) |
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线性误差： |
±1% |
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短期不稳定性： |
±1%（开机30min后） |
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响应时间： |
1秒 |
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使用环境： |
温度(0～40)℃，湿度＜85%RH |
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尺寸和重量： |
160mm×78mm×43mm；0.2kg |
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电源： |
常规使用6F22型9V积层电池一只 |
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