超声发射接收仪器德国KK超声波探伤仪汕头超声超声探伤仪时代超声波探伤仪紫外线防护用品紫外线强度计照度计示波器校准仪蓄电池检测仪张力仪扭矩仪测力计校准仪高斯计弹簧试验机光源-光功率计温湿度计过程校准仪紫外线灯LCR测试仪接地电阻测试仪万用表转速表
当前位置: 主页 > 紫外线灯 > 紫外线防护用品 > 日本ORC公司UV-M03A紫外线能量计

日本ORC公司UV-M03A紫外线能量计

发布时间:2022-04-04 15:52:13 作者:深圳市君达时代仪器有限公司 阅读: 13741 次
日本ORC公司UV-M03A紫外线能量计,ORC-UV-M03A紫外线光量计小型轻便,在不易测量条件下仍能使用,用来管理和检测装载了UV LAMP的设备。测量范围可根据紫外灯管的发光强度・光量进行选择。
日本ORC公司UV-M03A紫外线能量计

ORC-UV-M03A紫外线光量计小型轻便,在不易测量条件下仍能使用,用来管理和检测装载了UV LAMP的设备。测量范围可根据紫外灯管的发光强度・光量进行选择。
ORC-UV-M03A紫外线光量计特征

曝光装置发光强度光量强度可通过UV-M03A简单的测量,小巧方便。
可以方便的测量紫外线发光强度和光量。
受光器,根据灵敏度以及测试范围有UV-25,35,42可供选择。在半导体,液晶用基板的制造的工序中请选UV-SD25,UV-SD35,UV-SD42;在电子电路(印刷)基板的制造工序中请选用UV-SN25,UV-SN35,UV-SN42。
测量数据,可通过RS-232C接口连接到PC

同时还具有模拟输出。
关于SD型和SN型
 SN型由于承蒙从以前使用本公司制的曝光装置和照射装置等被的顾客宽广地采用的东西,确保着经过管理的继续性。 SD型在半导体和液晶用基板的制造流程的现场,已经使用的顾客,如果被重视跟那些的测量器的数据的兼容性确保的(本公司制的曝光装置在投影型曝光装置和液晶基板用周边曝光装置SD型也被采用),完全被新规章变成发光强度计等为使用的顾客推荐着其他公司制的发光强度计
日本ORC公司UV-M03A紫外线能量计参考参数

受光器(交换式)

UV-SN35

测量波长范围

310385nm

测量发光强度范围

0.00150mA/cm2

测量光量范围

0.00119999mJ/cm2

包含合在一起精度

对本公司UV标准器±1.5%以内

反复精度

±1.5%以内

UV-M03A包含一套UV25(短波)/UV35(中波)/UV42(长波)的传感器(需自行选配其中一套,如未选则默认UV-35
日本ORC公司UV-M03A紫外线能量计标准配件如下:
1:主机UV-M03A 一台
2:感光器 UV-SN35-M10 一个
3:感应器连接线1.5M 一条
4:记录器输出电线1.5M 一条
5:电池UM-3 2个
6:AC接合器JJ-3233 一个
7:Handy Wiper 1张
8:箱子 一个
9:说明书一本
10:ORC校正表一张
11:ORC检测成绩书一张
日本ORC公司UV-M03A紫外线能量计选配件:
1:感光器UV-SN25-M10 一个 UV-SN42-M10 一个
2:减光片UV-FL10-M10 (1/10)一个 UV-FL2-M10(1/20)一个 UV-FL5-M10(1/50)
3:感光器电线3M 5M.
4:RS232接口电线1.5M

热门产品推荐
希尔思SUTO S401热式质量流量 计 希尔思SUTO S401热式质量流量 计主要用于工业环境中的压缩空气系统。 希尔思SUTO S401热式质量流量 计适用管径DN25至DN500。一种测量杆适用于所有尺寸的管
德国BYK4846桔皮仪 II 德国BYK4846桔皮仪 专门针对高光泽表面,根据尺寸和不同的结构,表面外观会发生变化。桔皮仪 II 同,样能对明亮的面漆进行客观评价。 客观且可靠的外观数据 与桔皮
台湾泰仕 TES-1330A 数字式照度计 TES-1330A / TES-1332A / TES-1334A 测量范围自0.01 Lux至200,000 Lux 高准确性及快速响应 读值锁定功能 光谱响应接近CIE明视函数 余弦角度修正 模拟输出信号供记录用
日本日置 CM3286 钳形功率计 日本日置 CM3286 钳形功率计能快速测量 电流电压功率功率因数迅速检测, 可准确测量电流地址最小60mA测5W到最高600A测360W的 例:交流单相测量(1P2W)功率(测量
Prostat PRS-812B重锤式表面电阻测试仪提供了ESD审计员所需的全功能和先进的测量能力。根据ESD协会所有电阻测量文件,如ESD TR53、ANSI/ESD S4.1、ANSI/ESD S7.1和ANSI/ESD STM97.1,它为您提供了大量的测试能力,可以快速有效地测量地板、工作面、推车、服装、包装、平面材料的点对点电阻(Rtt)和对地电阻(Rtg)。
菲希尔XDL系列X射线荧光镀层测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL采用了完全基本参数法,因此无论是对镀层系统还是对固体和液体样品,仪器都能在没有标准片的情况下进行测量和分析。其测量范围为元素氯(17)到铀(92)。适用于客户进行质量控制、进料检验和生产流程监控。
返回首页公司简介联系我们TAG标签 网站地图RSS订阅
公司地址:深圳市龙华区龙华街道东环二路48号企生活人工智能华盛园三层   联系邮箱:56817.cn@163.com
联系电话:0755-83982369,83982365  联系手机:18902438879,15920069059
CopyRight © 2002-2026 深圳市君达时代仪器有限公司 版权所有 粤ICP备09010331号 网站建设蚂蚁网络