CT200涂层测厚仪

CT200涂层测厚仪-精度（1%H+1um)覆层测厚仪
CT200涂层测厚仪功能特点：
1.采用码值稳定的AD测量方法，淘汰频率不稳的振荡电路法，使F1.5示值误差达到1%H+1 um，高于目前覆层测厚仪普遍的3%H+1 um示值误差；
2.采用精密检波电路，50um以下测量值更加稳定准确
3.采用数字技术，有效减小现场电磁干扰对测值影响。
4.磁性测厚方法(配F型测头),可无损地测量磁性金属基体( 如钢、铁、合金和硬磁性钢等 )上非磁性覆盖层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等)。
5.磁性测厚方法可配F1.5,F3.5,F10多种探头。探头采用红宝石耐磨设计，淘汰镀铬设计，延长探头使用寿命，保持长期使用测量精度。
6.可定制测量范围从200um到20mm的各种异型F传感器。
7.涡流测厚方法，配N型测头测量非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆盖层的厚度(如:珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。
8.涡流测厚方法可配N1.5,N3.5探头,可定制测量范围从200um到20mm的各种异型N传感器。
9.具有两种测量方式：连续测量方式和单次测量方式
10.具有存贮功能：可同时存贮测量值和测试时间信息
11.操作过程有蜂鸣声提示
12.设有两种关机方式：手动关机方式和自动关机方式
13.高亮LED背光显示，显示更清晰
14.探头前端保护套可拆除，适应小尺寸空间测量

CT200涂层测厚仪技术参数：