X-Strata920 X射线荧光测厚仪

X-Strata920 X射线荧光测厚仪
主机内部包含如下主要配置：
-X射线管和高压发生器
-封气正比探测器和前置放大器
-CCD观瞄系统和Z轴程控激光对焦系统
-0.3mm直径圆形准直器，最小可测量点为直径约0.5mm的圆面
-加深样品仓/台，内部尺寸W236*D430*H160mm，最大适宜测量的样品尺寸为W118*D215*H150mm
-SmartLink仪器控制操作软件

X-Strata920 X射线荧光测厚仪随主机的标准配件：
-电脑一台，包括Dell主机，键盘，鼠标和Windows操作系统
-仪器开机钥匙一个；
-操作说明书（电子版）；
-波谱校准片一块；
-出厂证书一套；

（仪器主要参数规格请参考报价附件）
备注：显示器用户自行购置

标准片一套（共11片），
包含金，银，铜，锡，镍“纯元素”各一片；
包含银薄膜标准片1片，镍薄膜片2片；金薄膜标准片1片，锡薄膜片1片，铜薄膜标准片1片
X-Strata920 X射线荧光测厚仪

序号	项目	内容
1	测量方向 （射线照射方向）	从上往下，即使样品表面有一定的幅度或不平整等情况也可轻易对焦
2	外形尺寸	宽x深x高[mm]： 约407 x 770 x 400 mm（不含电脑等）
3	井深式样品台	“井深式”样品仓设计，可以测量很小到很大的广泛尺寸的样品/零件 ，可放置样品最大高度为150mm 。样品台支架可放置在“深井”中的4个位置的卡槽上，使得不同样品都可以方便地测量。 样品台支架放置在标准位置（最上层）时，就是“开槽式样品仓”，可以测量大型平板样品，如尺寸大于仪器宽度的印制线路板或小型的连接器，接插件样品。所有样品可以很方便地放置并定位到待测点。 Z轴自动控制（Z向行程：43mm） 样品仓内部尺寸：236 x 430 x 160mm  (宽x深x高)
4	X射线源	超薄Be窗微聚焦W阳极靶射线管 产生高通量X射线，经过准直器，得到细束X射线。 这个“聚焦X射线束”可对小样品或者样品上小测试点进行高精度的分析。
5	高压发生器	50 kV, 1.0 mA (50 W) 高压发生器，高压多档可调
6	二次滤光片	钴二次滤光片，用于准确校正铜镍之间的相互干扰，合适镍层的精确测量。
7	准直器	0.3 mm Ø圆形准直器，最小测量点是直径约0.5mm的圆形，适合大多数类型的样品。
8	X射线接收器 （探测器）	高分辨率、大面积、封氙气的正比例计数器（PC） 结合二次滤波器来最大化灵敏度，以获得最佳元素检测
9	数字脉冲处理器	4096 通道（CH）数字多道处理器 含死时间校正和脉冲累积消除功能的自动信号处理
10	视屏系统	彩色CCD，30倍光学放大， 200%、300%和400%数字放大。样品分析区域在用户界面显示，清晰、易用。
11	Z轴自动对焦系统	镭射用于Z轴自动精确定位X射线光管/检测器与被测样品到最佳测试距离。 “一键操作”将Z轴测试头移动到最佳位置，同时将样品图像定焦（显示在屏幕上）。 自动而简单的操作提高仪器测试的再现性，并将人为测量误差降到最低。  注：最佳测试距离为12.7mm，由X射线测试头自动调节高度（Z轴）。
12	电源	85~130 或 215~265 伏特，频率范围47Hz到63Hz
13	能耗	小于1000W
14	工作温度	10°C至40°C
15	空气相对湿度	相对湿度≤ 98 %, 无冷凝水
16	计算机	CPU：Intel Core 2 Duo E7500 2.93GHz 硬盘： 500Gb，内存：2Gb，DVDRW 注：由于计算机系统更新快速，实际配置等同或优于上述规格。
17	操作系统	MicrosoftTM Windows

报价附件之仪器主要规格参数 二（对应报价单号：）

序号	项目	内容
18	可测量的镀层 元素范围	元素周期表中22号钛元素到92号铀元素
19	可测量的镀层层数	最多可同时测量4层（不含基材）
20	可测镀层厚度范围	通常约0.03微米到30微米，根据不同镀层元素和镀层结构不同而不同。
21	典型准确性	第一层（最表面层）：±0.025微米或±5%以较大者计，或更好； 第二次（次表面层）：±0.050微米或±10%以较大者计，或更好； 第三层           ：         ±0.075微米或±15%以较大者计，或更好； （按操作规程，采用0.3mm准直器，对随仪器配置的标准片进行连续10次测量，测量平均值与标准片标称值之间的差异作为准确性数据）

*持续改进是我们的宗旨，对上述参数，我们保留在不通知的情况下做调整的权力。