日期：2024-10-20 21:18:04 点击：520
XDV-SDD型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪是一款应用广泛的能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它特别适用于测量和分析超薄镀层以及经行痕量分析。其配备了高精度、可编程运行的 X/Y 轴工作台，是全自动测量样品的理想设备。
日期：2024-10-20 21:13:00 点击：449
菲希尔XDL系列X射线荧光镀层测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL采用了完全基本参数法，因此无论是对镀层系统还是对固体和液体样品，仪器都能在没有标准片的情况下进行测量和分析。其测量范围为元素氯（17）到铀（92）。适用于客户进行质量控制、进料检验和生产流程监控。
日期：2023-05-14 18:17:00 点击：1114
HI98198荧光法溶解氧仪 饱和溶解氧测定仪采用光学荧光（OPDP）测量方法，以确溶解氧测量的准确性，通过内置标准方法和标准，可以轻松地测量溶解氧DO、生化耗氧量BOD、耗氧速率OUR、比耗氧速率SOUR、无需进行复杂计算。
日期：2022-03-30 09:13:13 点击：13242
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日期：2019-01-30 16:13:19 点击：5982
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日期：2018-12-17 20:54:53 点击：6174
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