Ficherscoper X-RAY XDL X射线荧光光谱仪

Ficherscoper X-RAY XDL X射线荧光光谱仪

Ficherscoper X-RAY XDL X射线荧光光谱仪配备了比例计数管探测器，适用于质量控制，来料检验和生产监控。由于它测量空间大，故而适合测量有复杂几何形状的大尺寸样品。XDL系列不仅可以配备简单样品平台，还可以配置不同的XY工作台和Z轴。因而可用于自动化批量测试。
典型的应用为测量电镀镀层及电子半导体工业中的功能性镀层。XDL型仪器还可以快速精确测量防腐蚀性或装饰性镀层，如铜上镀镍。此外还可以测量电镀溶液的成分。
配备微距焦X射线管的XDLM型仪器是测量微小结构（如插针和其他电子元器件）的理想设备

FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®
配备硅PIN探测器及微距焦X射线管的XDAL型仪器即使在含量很小和镀层很薄的情况下，也可以提供可靠的分析结果。它适用于来料检验，生产监控及研发领域。XDAL配备有可切换准直器、基本虑片及快速可编程XY平台。因而可以在运行过程中自动对准测量位置，自动完成不同批次的测量。

XDAL型仪器的典型应用包括硬质镀层分析，如钻头和切割设备、合金材料分析以及电子和半导体工业中的超薄镀层测量。此外，使用XDAL型仪器，还可完成于航空技术中的“高可靠性”检测以及RoHS指令中的电子产品检测，如检测焊料镀层中的铅含量等。