日期：2018-07-28 21:27:53 点击：6545
Ficherscoper X-RAY XDV-SDD Ficherscoper X-RAY XDV-SDD 型仪器是为了满足镀层厚度测量和材料分析领域的最高要求而专门设计的。在配备了最新的硅漂移探测器后，特别适合于无损测量数纳米厚度的
日期：2018-07-28 21:24:25 点击：6560
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日期：2018-07-28 21:20:20 点击：15234
菲希尔Ficherscoper X-RAY 4000 X射线荧光光谱仪 用于在线测量的FISCHERSCOPE. X-RAY 这类X射线荧光测量系统，用于连续镀层厚度测量和分析，主要是为了对生产线进行实时的质量控制而设计的。
日期：2018-07-28 20:46:15 点击：15450
菲希尔Ficherscoper X-RAY X射线荧光光谱仪 无论是高精度镀层厚度测量或是精确材料成分分析，FISCHER众多系列的X射线荧光光谱仪可以为任何应用提供最佳仪器选择。除了拥有很多的创新和
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